میکروسکوپ الکترونی عبوری با وضوح بالا (HR-TEM)

میکروسکوپ الکترونی عبوری با وضوح بالا (HR-TEM)

میکروسکوپ های الکترونی عبوری ابزارهایی ویژه در مشخص نمودن ساختار و مورفولوژی مواد محسوب می شوند که مطالعات ریزساختاری مواد با قدرت تفکیک بالا و بزرگنمایی خیلی زیاد را امکان پذیر می سازند. علاوه بر این از این میکروسکوپ ها جهت مطالعات ساختارهای بلور، تقارن، جهت گیری و نقائص بلوری می توان استفاده نمود. این موارد سبب شده است که TEM امروزه به یک ابزار بسیار مهم در بسیاری از تحقیقات پیشرفته فیزیک، شیمی، بلورشناسی، علم مواد و زیست شناسی شناخته شود. این میکروسکوپ در دو حالت میدان روشن (Bright Field) و میدان تاریک (Dark Field) تصویر برداری می کند که هر کدام می تواند اطلاعات متفاوتی را به استفاده کننده ارایه کند. همچنین قابلیت دیگر این میکروسکوپ علاوه بر تصویربرداری، تشکیل الگوی پراش الکترونی از سطوح دلخواه (SAED:Selected Area Electron Diffraction) است که با تحلیل آن می توان اطلاعات مناسبی از ساختار بلوری و ترکیب فازهای موجود دست یافت.

با توجه به گوناگونی مفاهیم مرتبط با رفتار بین نمونه و الکترون، تکنیک های متعددی مرتبط با کار میکروسکوپ الکترونی عبوری وجود دارد. بر این اساس و جهت تصویرسازی در  TEM، در ابتدا یک الگو با استفاده از پرتوهای عبوری و یا پراکنده شده، تهیه شده و سپس تحت تاثیر عدسی های مناسب به منظور به دست آوردن تصویری با کنتراست بالا قرار می گیرد. این فرایند انتخاب پرتو، تکنیک هایی مانند اندازه گیری های میدان روشن و میدان تاریک و تصویربرداری با وضوح بالا (HR-TEM) را از یکدیگر تفکیک می کند.

میکروسکوپ های الکترونی عبوری نسبت به میکروسکوپ های دیگر دارای مزایای متعددی هستند که از جمله می توان به موارد زیر اشاره نمود:

  • توان تفکیک (Resolution) و بزرگنمایی بسیار بالا به دلیل طول موج کوچک پرتوی الکترونی نسبت به پرتوی نوری.
  • قابلیت آنالیز بلورشناسی اجزاء بسیار ریز مواد و مطالعه ی عیوب بلوری
  • امکان آنالیز شیمیایی اجزاء  نمونه توسط پرتوی ایکس ساطع شده از نمونه

0 پاسخ

پاسخ دهید

میخواهید به بحث بپیوندید؟
مشارکت رایگان.

دیدگاهتان را بنویسید

نشانی ایمیل شما منتشر نخواهد شد. بخش‌های موردنیاز علامت‌گذاری شده‌اند *