آنالیز AFM

آنالیز AFM

 آنالیز AFM میکروسکوپ نیروی اتمی چیست؟

آنالیز AFM میکروسکوپ نیروی اتمی یکی دیگر از اعضای خانواده میکروسکوپ روبشی است که قادر به تصویربرداری از سطح اجسام مختلف می باشد. این سیستم قادر به تصویر برداری از سطوح نارسانا نیز  می باشد و در دو مد تماسی و غیر تماسی تصویر برداری می نماید. مبنای تشکیل تصویر در میکروسکوپ نیروی اتمی، نیروی بین سوزن و سطح نمونه است. در این میکروسکوپ، سطح نمونه با سوزنی تیز به طول حدود ۲ میکرومتر و قطر کمتر از ۱۰۰ آنگستروم روبش می شود. سوزن در انتهای یک تیرک (cantilever) به طول ۱۰۰ تا ۲۰۰ میکرومتر قرار گرفته است. تیرک را معمولا از موادی می سازند که قابلیت ارتجاع بالایی داشته باشد. سر دیگر تیرک به بازوی پیزوالکتریک (پیزوالکتریک به دسته ای از مواد گفته می شود که در اثر تحریک الکتریکی از خود حرکت مکانیکی نشان می دهند و بلعکس. از این مواد در جابه جایی های بسیار دقیق استفاده می شود) متصل شده است. وقتی سوزن روی سطح نمونه کشیده می شود به دلیل پستی بلندی های سطح، نیرویی از طرف سطح به سوزن اعمال و موجب خمش و یا انحراف تیرک می شود. این انحرافات نسبت مستقیم با نیروی وارد شده به سوزن دارد. آشکارساز در این میکروسکوپ با اندازه گیری این انحرافات در حین روبش سطح، به رایانه این امکان را می دهد تا نقشه پستی بلندی های سطحی را تولید کند.

مشخصات دستگاه آنالیز AFM

  • نام کامل دستگاه به فارسی : میکروسکوپ نیروی اتمی
  • نام دستگاه به لاتین : Atomic Force Microscope
  • مدل دستگاه : Vecco
  • دقت : یک نانو متر
0 پاسخ

پاسخ دهید

میخواهید به بحث بپیوندید؟
مشارکت رایگان.

دیدگاهتان را بنویسید

نشانی ایمیل شما منتشر نخواهد شد. بخش‌های موردنیاز علامت‌گذاری شده‌اند *